PCB电路失效的元凶：如何精准量化离子污染风险？ 离子污染是导致PCB漏电、 腐蚀等失效的关键“隐形杀手”，目前行业主流是通过 ROSE、局部离子测试和离子色谱（IC）结合SIR/CAF试验来实现“从含量到可靠性”的量化评估体系。 一、离子污染如何导致失效？ 在潮湿、偏压和残余可溶性离子共存时，会发生电化学迁移，形成金属枝晶（dendrite），跨...
